[发明专利]X射线相位成像装置和含有纤维的材料的缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201810803685.1 | 申请日： | 2018-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN109283200B | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 佐野哲;白井太郎;土岐贵弘;堀场日明;森本直树 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N23/041 | 分类号： | G01N23/041 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种X射线相位成像装置和含有纤维的材料的缺陷检测方法。该X射线相位成像装置具备控制部，该控制部基于材料的暗场像来获取与材料的缺陷有关的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 相位 成像 装置 含有 纤维 材料 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线相位成像装置，具备：X射线源，其向作为被摄体的含有纤维的材料照射X射线；图像信号检测器，其对基于从所述X射线源照射的所述X射线的图像信号进行检测；多个光栅，所述多个光栅被配置在所述X射线源与所述图像信号检测器之间，且包括被照射来自所述X射线源的所述X射线的第一光栅和被照射通过了所述第一光栅的所述X射线的第二光栅；图像获取部，其基于由所述图像信号检测器检测到的所述图像信号，来获取存在所述材料的情况下和不存在所述材料的情况下的、表示X射线的干涉强度的衰减率的暗场像；以及控制部，其基于由所述图像获取部获取到的所述材料的暗场像，来获取与所述材料的缺陷有关的信息。
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