[发明专利]生长在Si/石墨烯复合衬底上InN纳米柱外延片及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810803947.4 申请日: 2018-07-20
公开(公告)号: CN108735866A 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 高芳亮;李国强;徐珍珠;余粤锋 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L33/02 分类号: H01L33/02;H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00;H01S5/02;H01S5/343;B82Y40/00
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 陈智英
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明属于半导体器件的技术领域,公开了生长在Si/石墨烯复合衬底上InN纳米柱外延片及其制备方法。生长在Si/石墨烯复合衬底上InN纳米柱外延片,由下至上依次包括Si衬底、石墨烯层、In金属纳米微球层和InN纳米柱层。本发明还公开了生长在Si/石墨烯复合衬底上的InN纳米柱外延片的制备方法。本发明的纳米柱直径均一、高有序性,同时解决了InN因与Si之间存在较大晶格失配而在其中产生大量位错的技术难题,大大减少了InN纳米柱外延层的缺陷密度,有利提高了载流子的辐射复合效率,改善InN纳米柱外延片的性能,可大幅度提高氮化物器件如半导体激光器、发光二极管的发光效率。
搜索关键词: 纳米柱 外延片 衬底 石墨烯 复合 制备 生长 载流子 半导体激光器 辐射复合效率 半导体器件 氮化物器件 发光二极管 发光效率 技术难题 金属纳米 晶格失配 石墨烯层 外延层 微球层 均一 位错
【主权项】:
1.生长在Si/石墨烯复合衬底上InN纳米柱外延片,其特征在于:由下至上依次包括Si衬底、石墨烯层、In金属纳米微球层和InN纳米柱层。
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