[发明专利]一种涡旋激光的检测装置及方法有效
| 申请号： | 201810805346.7 | 申请日： | 2018-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN109029742B | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 林国平;曹娅琴;陆泽晃 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 廖盈春;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种涡旋激光的检测装置及方法，检测装置包括平凹透镜和图像传感器；将平凹透镜的平面部分面向待测涡旋光放置，涡旋光束首先入射到透镜的平面，部分反射出去；部分折射的待测光则入射到透镜的凹面，产生第二次部分反射。通过调节待测光束在平凹透镜的入射角和入射位置，使得两次部分反射的光束在空间上产生重叠；最后将图像传感器放于光斑重叠处，用于测量干涉图案。由于经过凹面部分反射发散的光束可以近似看成倾斜的平面光，因此与经平面反射的涡旋光束产生叉形的干涉图案，通过于分析可以进一步从图案中识别涡旋激光并判定其拓扑荷数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 涡旋 激光 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种涡旋激光的检测装置，其特征在于，包括：平凹透镜(1)和图像传感器(2)；当待测涡旋光入射至所述平凹透镜(1)的平面时，经所述平凹透镜(1)的平面第一次折射后的折射光入射至所述平凹透镜(1)的凹面，经所述平凹透镜(1)的凹面反射后的反射光再经过所述平凹透镜(1)的平面第二次折射后输出；所述图像传感器(2)设置在待测涡旋光入射至所述平凹透镜(1)的平面时的反射光与第二次折射后输出的折射光相交的位置，用于采集干涉图案。
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