[发明专利]基于垂直PIN二极管双向限幅电路及制作方法在审

专利信息
申请号: 201810811159.X 申请日: 2018-07-23
公开(公告)号: CN110752211A 公开(公告)日: 2020-02-04
发明(设计)人: 马晓华;杨凌;郭建新;郝跃;祝杰杰;周小伟;侯斌;宓珉翰 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L27/06 分类号: H01L27/06;H01L21/56;H01L29/778;H01L29/868
代理公司: 61230 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 闫家伟
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种基于垂直PIN二极管双向限幅电路的制作方法,包括步骤:刻蚀AlGaN势垒层,在GaN缓冲层上形成正向PIN二极管制作区域和反向PIN二极管制作区域;在刻蚀后的AlGaN势垒层上制作GaN基高频器件;在正向PIN二极管制作区域制作正向PIN二极管;在反向PIN二极管制作区域制作反向PIN二极管;在GaN基高频器件、正向PIN二极管和反向PIN二极管上制作互联层,完成双向限幅电路的制作。本发明实施例的双向限幅电路具有电路面积小、低开态电阻、低关态电容等优点,在大功率信号冲击时的承受能力较强,能够满足高频率、高功率电子器件的需求。
搜索关键词: 制作 正向 双向限幅电路 高频器件 刻蚀 高功率电子器件 大功率信号 承受能力 开态电阻 高频率 互联层 电容 关态 垂直 电路
【主权项】:
1.一种基于垂直PIN二极管双向限幅电路的制作方法,其特征在于,所述双向限幅电路在包含衬底层(101)、成核层(102)、GaN缓冲层(103)和AlGaN势垒层(104)的样片上制作而成,包括步骤:/nS1、刻蚀所述AlGaN势垒层(104),在所述GaN缓冲层(103)上形成正向PIN二极管制作区域(105)和反向PIN二极管制作区域(106);/nS2、在刻蚀后的所述AlGaN势垒层(104)上制作GaN基高频器件;/nS3、在所述正向PIN二极管制作区域(105)制作正向PIN二极管;/nS4、在所述反向PIN二极管制作区域(106)制作反向PIN二极管;/nS5、在所述GaN基高频器件、所述正向PIN二极管和所述反向PIN二极管上制作互联层(502),得到双向限幅电路。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810811159.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top