[发明专利]锥束计算机断层成像图像校正方法和系统有效

专利信息
申请号: 201810811498.8 申请日: 2018-07-23
公开(公告)号: CN109146800B 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: 齐宏亮;陈宇思;吴书裕;李翰威;骆毅斌 申请(专利权)人: 广州华端科技有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 冯右明
地址: 510700 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及一种锥束计算机断层成像图像校正方法和系统。所述方法包括:在第一条件下获取背景投影图像和校正模体投影图像,根据背景投影图像和校正模体投影图像获取多能曲线,根据多能曲线获取单能曲线,根据多能曲线和单能曲线,校正第二条件下所获取的待校正投影图像并生成目标锥束计算机断层成像图像。采用本方法能够通过第二条件获取准确性更高的多能曲线和单能曲线,对待测物体的待校正投影图像进行准确的校正,提高硬化校正的准确性。
搜索关键词: 校正 断层成像图像 锥束计算机 校正投影图像 背景投影 投影图像 校正模 图像 第一条件 曲线获取 条件获取 硬化 申请
【主权项】:
1.一种锥束计算机断层成像图像校正方法,其特征在于,包括以下步骤:获取背景投影图像,其中,所述背景投影图像为在第一条件下探测器对气体介质进行等角度圆周曝光扫描所探测到的图像,所述第一条件为探测器所在平面平行于等角度圆周曝光扫描的旋转中心轴、射线源的中心射线垂直穿过所述旋转中心轴且所述探测器的平行于所述旋转中心轴的一侧边界的中点被所述中心射线照射;获取校正模体投影图像,其中,所述校正模体投影图像为在所述第一条件下所述探测器对校正模体进行等角度圆周曝光扫描所探测到的图像,所述校正模体为放置在成像可视区域内且截面直径小于所述成像可视区域的直径的模体,所述成像可视区域为所述第一条件下视场角在所述旋转中心轴处的可成像区域;根据所述背景投影图像和所述校正模体投影图像获取多能曲线,根据所述多能曲线获取单能曲线,其中,所述多能曲线用于表示多能线积分值与长度值的关系,所述单能曲线用于表示单能线积分值与长度值的关系;根据所述多能曲线和所述单能曲线,校正待校正投影图像并生成目标锥束计算机断层成像图像,其中,所述待校正投影图像为在第二条件下所述探测器对待测物体进行等角度圆周曝光扫描所探测到的图像,所述第二条件为所述探测器所在平面平行于所述旋转中心轴、所述中心射线垂直穿过所述旋转中心轴且所述中心射线垂直照射在所述探测器的中心,所述待测物体为放置在所述旋转中心轴的物体且处于所述气体介质的环境中;所述成像可视区域的直径通过下述方式得到:根据获取所述成像可视区域的直径,其中,D为所述成像可视区域的直径,L为所述探测器的可探测区域的长度,SAD为所述射线源与所述旋转中心轴的距离,SDD为所述射线源与所述探测器的垂直距离。
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