[发明专利]一种集成电路测试系统时间测量单元校准装置及方法有效
| 申请号： | 201810811982.0 | 申请日： | 2018-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN108828492B | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 孙崇钧;顾翼 | 申请（专利权）人： | 中国船舶重工集团公司第七0九研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 武汉河山金堂专利事务所(普通合伙) 42212 | 代理人： | 胡清堂;陈懿 |
| 地址： | 430000 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种集成电路测试系统时间测量单元校准装置及方法，所述装置将各模块集成在一个密封的温控模块内，直接安装在相应接口适配器上实现校准，对独立可调的标准脉冲信号实现闭环反馈确保其稳定可靠，对信号的采集、传输采用对称式探针结构，保证校准装置信号完整性。所述装置具有可溯源性、高可靠性、高集成度、使用方便等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 系统 时间 测量 单元 校准 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试系统时间测量单元校准装置，其特征在于，所述校准装置(1)包括主控模块(10)、与主控模块(10)电连接的时间间隔测量模块(11)、放置主控模块(10)和时间间隔测量模块(11)的恒温控制模块(12)，与时间间隔测量模块(11)电连接的探针模块(13)、与探针模块(13)电连接的接口适配器(14)；所述校准装置(1)与外置集成电路电路测试系统(2)电连接。
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