[发明专利]测量冷中子源增益的方法

摘要

本公开属于中子散射技术领域，具体涉及测量冷中子源增益的方法。该方法包括以下步骤：1)选择适合的谱仪条件；2)开启冷中子源，探测冷中子注量；3)冷中子源开启状态下的本底测量；4)关闭冷中子源，探测冷中子注量；5)冷中子源关闭状态下的本底测量；6)冷中子源开闭前后的中子计数对比及分析。该方法能够快速、简便且尽量不增加空间需求的测量冷中子源增益的方法。

主权项

1.测量冷中子源增益的方法，其特征在于，该方法是利用小角中子散射谱仪测量，该方法包括以下步骤：1)选择适合的谱仪条件通过调整速度选择器的转速，选择可被小角中子散射谱仪探测系统探测的某一波长的中子；2)开启冷中子源，探测冷中子计数开启冷中子源，启动小角中子散射谱仪的二维位置探测器探测冷中子计数，测量3～5次后，取其平均值；3)冷中子源开启状态下的本底测量保持与步骤(2)所用的小角中子散射谱仪的参数、测量时间及冷中子源条件不变，在样品台前设置挡束板，测量冷中子源开启状态下的中子计数本底；4)关闭冷中子源，探测冷中子计数保持与步骤(2)的所用的小角中子散射谱仪的参数及测量时间不变，关闭冷中子源，探测冷中子计数，测量3～5次后，取其平均值；；5)冷中子源关闭状态下的本底测量保持与步骤(4)的所用的小角中子散射谱仪的参数、测量时间不变及冷中子源条件不变，在样品台前设置挡束板，探测冷中子计数本底；6)冷中子源开闭前后的中子计数对比及分析将步骤(2)得到的中子计数减去步骤(3)得到的中子计数本底，并取其平均，计为A1；将步骤(4)得到的中子计数减去步骤(5)得到的中子计数本底，并取其平均，计为A2；将A1、A2转换为中子注量率，根据两者的中子注量率的比值可计算出冷中子源增益，同时也可根据步骤(2)得到的中子计数判断冷中子束流的稳定性。