[发明专利]下行检测、发送方法、装置及通信系统、终端、基站有效
| 申请号： | 201810825221.0 | 申请日： | 2018-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN110769501B | 公开（公告）日： | 2023-09-29 |
| 发明（设计）人： | 李新彩;赵亚军;徐汉青;杨玲 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04W72/23 | 分类号： | H04W72/23;H04W72/1273;H04W72/0446;H04W72/0453;H04W72/044 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种下行检测、发送方法、装置及通信系统、终端、基站，由于终端针对COT内的时隙有两种不同的检测机会策略，针对COT内的普通时隙，终端可以采用普通检测机会策略进行检测，而针对COT内的目标时隙，终端则可以采用目标检测机会策略进行检测，目标检测机会策略的检测粒度比普通检测机会策略的检测粒度更小，也就是检测密度更大，所以基站在目标时隙中拥有较为密集的发送机会，在需要进行下行发送时，不用长时间地等待就能获得发送机会，就可以在对应的时频位置完成下行信息发送。在COT内其他时隙，终端的检测粒度大，检测密度小，因此，终端的检测工作量相对较小，这有利于降低下行检测给终端带来的功耗。 | ||
| 搜索关键词： | 下行 检测 发送 方法 装置 通信 系统 终端 基站 | ||
【主权项】：
1.一种下行检测方法，包括：/n确定当前时隙为信道占用期COT中的目标时隙；/n根据所述目标时隙对应的目标检测机会策略进行下行检测，所述目标检测机会策略的检测粒度小于普通检测机会策略的检测粒度，所述普通检测机会策略为所述COT中除所述目标时隙外其他时隙的检测机会策略。/n
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