[发明专利]一种芯片检测装置

摘要

本发明提供了一种芯片检测装置，包括：模拟电池电路、待检测电路、充电芯片和充电电流测量电路；模拟电池电路包括：供电端口、第一控制端口、第一PMOS管、第一NMOS管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、整流二极管、模拟电池内阻和第一电容；待检测电路包括：第二控制端口、待测电阻、第二PMOS管、第二NMOS管、第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二输出端；充电芯片连接至第二输出端与地之间，为模拟电池电路充电；充电电流测量芯片的第一检测接入端与第二检测接入端电连接至待测电路的两端；充电电流测量芯片的输出端输出电压测量值。通过输出的电压测量值可以监控充电芯片工作是否正常。

主权项

1.一种芯片检测装置，其特征在于，包括：模拟电池电路、待检测电路、充电芯片和充电电流测量芯片；其中，所述模拟电池电路至少包括：供电端口、第一控制端口、第一PMOS管、第一NMOS管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、整流二极管、模拟电池内阻和第一电容；其中：所述供电端口与供电电源电连接；所述第一PMOS管的源极与所述供电端口电连接，所述第一PMOS管的漏极与所述整流二极管的正向接入端电连接，所述第一PMOS管的栅极与所述第一NMOS管的漏极电连接；所述第一NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第一NMOS管的栅极与所述第三电阻的一端电连接，所述第三电阻的另一端连接至所述第一控制端口，在所述第一控制端口输出的控制信号的控制下导通或关断所述第一PMOS管；所述第一电阻电连接在所述供电端口与所述第一PMOS管的栅极之间；所述第二电阻电连接在所述第一NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述模拟电池内阻与所述第一电容并联，并电连接在所述整流二极管的反向接入端与所述供电电源的地端之间；所述待检测电路至少包括：第二控制端口、待测电阻、第二PMOS管、第二NMOS管、第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二输出端；其中：所述待测电阻的一端与所述整流二极管的反向接入端电连接，所述待测电阻的另一端与所述第二PMOS管的漏极电连接，所述第二PMOS管的源极与所述第二输出端电连接，所述第二PMOS管的栅极与所述第二NMOS管的漏极电连接；所述第二NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第二NMOS管的栅极与所述第六电阻的一端电连接，所述第六电阻的另一端连接至所述第二控制端口，在所述第二控制端口输出的控制信号的控制下导通或关断所述第二PMOS管；所述第四电阻电连接在所述第二NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述第五电阻电连接在所述第二PMOS管的栅极与所述第二输出端之间；所述充电芯片连接至所述第二输出端与所述供电电源的地端之间，以为所述模拟电池电路充电，在所述充电芯片为所述模拟电池电路充电时，产生电流流经所述待测电阻；所述充电电流测量芯片的第一检测接入端与第二检测接入端电连接至所述待测电路的两端；所述充电电流测量芯片的输出端输出电压测量值，所述电压测量值是根据流经所述待测电阻的电流得到的。