[发明专利]一种阵列基板的制备方法有效
申请号: | 201810827393.1 | 申请日: | 2018-07-25 |
公开(公告)号: | CN109037151B | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 吴伟 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12 |
代理公司: | 44238 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) | 代理人: | 潘中毅;熊贤卿 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种阵列基板的制备方法,包括衬底基板,其上依序制作出栅极、栅绝缘层和半导体层,然后在栅绝缘层和半导体层上沉积第二金属层并涂布光阻层,接着利用一道光罩制程形成源漏极,且使得光阻层在源漏极上还保留部分光阻区域,并待覆盖保护层后通过光阻剥离工艺剥离源漏极上所保留的部分光阻区域,以将源漏极上所保留的部分光阻上的保护层带走,形成过孔,再在保护层上形成像素电极通过过孔与源漏极实现电连通,从而节省了制作保护层通孔的一道光罩。实施本发明,通过在传统的阵列基板的制备工艺上节省含有曝光显影的工艺制程的数量来达到节省制作成本的目的。 | ||
搜索关键词: | 源漏极 阵列基板 保护层 半导体层 光阻区域 栅绝缘层 光阻层 光罩 光阻 制程 制备 保留 第二金属层 覆盖保护层 剥离工艺 衬底基板 曝光显影 像素电极 制备工艺 传统的 电连通 沉积 通孔 制作 剥离 | ||
【主权项】:
1.一种阵列基板的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:/n步骤S21、提供一衬底基板;/n步骤S22、在所述衬底基板上沉积第一金属层,并通过第一道光罩制程对所述第一金属层进行图案化,形成底栅;/n步骤S23、在所述衬底基板及所述底栅上形成有第一栅绝缘层;/n步骤S24、在所述第一栅绝缘层上沉积金属导电氧化物膜层,并通过第二道光罩制程对所述金属导电氧化物膜层进行图案化,形成半导体层;/n步骤S25、在所述半导体层及所述第一栅绝缘层上形成有绝缘膜层,采用第三道光罩制程对所述绝缘膜层进行图案化,形成为位于所述半导体层上的第二栅绝缘层;/n步骤S26、在所述第一栅绝缘层、第二栅绝缘层及半导体层上沉积第二金属层,且在所述第二金属层涂布光阻层,并通过第四道光罩制程对所述光阻层进行灰阶曝光,使所述光阻层进行图案化,形成相互间隔的第一光阻区域、第二光阻区域和第三光阻区域;/n步骤S27、通过蚀刻制程移除未被第一光阻区域、第二光阻区域和第三光阻区域覆盖的第二金属层,形成源漏极以及位于所述第二栅绝缘层上的顶栅;/n步骤S28、对所述第一光阻区域、第二光阻区域和第三光阻区域进行灰化处理,去除所述第一光阻区域和所述第三光阻区域,保留部分第二光阻区域;所述部分第二光阻区域对应欲形成像素电极;/n步骤S29、在所述半导体层、源漏极和顶栅以及所述部分第二光阻区域上形成有保护层;/n步骤S30、通过光阻剥离工艺剥离所述部分第二光阻区域,以将所述部分第二光阻区域上的保护层带走,形成过孔;/n步骤S31、在所述保护层上和所述源漏极上沉积透明导电膜,并通过第五道光罩制程对所述透明导电膜进行图案化,形成像素电极,所述像素电极通过所述过孔与所述源漏极连接。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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