[发明专利]测量和验证隔膜孔径的装置及其方法有效
| 申请号： | 201810827604.1 | 申请日： | 2018-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN109000600B | 公开（公告）日： | 2020-09-18 |
| 发明（设计）人： | 何丹农;张道明;解启飞;张芳;卢玉英;吴晓燕;金彩虹 | 申请（专利权）人： | 上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司 |
| 主分类号： | G01B13/10 | 分类号： | G01B13/10 |
| 代理公司： | 上海东亚专利商标代理有限公司 31208 | 代理人： | 董梅 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出一种测量和验证隔膜孔径的装置和方法。装置主要分为阴极电极，阴极室、阴极电解液、阳极电极、阳极室、阳极电解液、直流电源、隔膜组成部分。即根据阳离子的离子半径大小，在特定测量装置中，装置构成主要分为阴极电极，阴极室、阴极电解液、阳极电极、阳极室、阳极电解液、直流电源、隔膜等组成部分。通过检测隔膜两边阴阳极室的离子迁移变化情况，来判断隔膜孔径大小的范围值。该测量装置简单不复杂，测试方法简单高效，便携，易操作，并且测量门槛低，成本低，有很好的工业化应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 验证 隔膜 孔径 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
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