[发明专利]一种用于测试充电芯片的设备

摘要

本发明提供了一种用于测试充电芯片的设备，包括：测试电路以及底座、固定在底座上的垂直支架和与垂直支架连接的固定支架；固定支架固定有传动机构，传动机构包括：传动机构固定件、导向筒、联动轴、连接件和扳手；转动扳手的手柄端，在扳手的转力带动下，连接件带动联动轴在导向筒内上下滑动，联动轴带动下压板下压或上升；底座上设置有限位槽，限位槽用于将淬盘限定在限位槽内，淬盘上设有产品容置槽；底座上还设置有弹力探针，弹力探针的两个针脚分别与测试电路的两个接入端电连接，在待测试产品放置于产品容置槽内时，弹力探针的位置正对待测试产品的测试接口；在下压板的下压下，待测试产品的测试接口与弹力探针触压接触，以完成对待测试产品的测试。

主权项

1.一种用于测试充电芯片的设备，其特征在于，包括：底座和跨设于所述底座上的支撑架，所述支撑架包括垂直固定在所述底座两侧的两个垂直支架和与两个所述垂直支架连接的固定支架；所述固定支架固定有传动机构，所述用于测试充电芯片的设备还包括下压板，其中：所述传动机构至少包括：传动机构固定件、导向筒、联动轴、连接件和扳手；其中，所述传动机构固定件固定在所述固定支架上；所述导向筒固定在所述传动机构固定件的一个自由端；所述联动轴穿过所述导向筒，并沿所述导向筒上下滑动，所述联动轴的一端与所述下压板连接，另一端与所述连接件的一端连接；所述扳手呈L型，所述扳手的前端与所述传动机构固定件的另一自由端可转动连接，所述扳手的弯折处与所述连接件的另一端可转动连接；转动所述扳手的手柄端，在所述扳手的转力带动下，所述连接件带动所述联动轴在所述导向筒内上下滑动，所述联动轴向靠近所述底座的方向运动时带动所述下压板下压，所述联动轴向远离所述底座的方向运动时带动所述下压板上升；所述底座上设置有限位槽，所述限位槽的位置与所述下压板的位置对应；所述限位槽用于将淬盘限定在所述限位槽内，所述淬盘上设有产品容置槽，用于容置待测试产品；所述底座上还设置有弹力探针，在所述待测试产品放置于所述产品容置槽内时，所述弹力探针的位置正对所述待测试产品的测试接口；所述待测试产品在所述下压板的下压下，所述待测试产品的测试接口与所述弹力探针触压接触，以完成对所述待测试产品的测试；所述用于测试充电芯片的设备还包括基于充电芯片的测试电路，其中，所述基于充电芯片的测试电路包括：模拟电池电路、待检测电路、充电芯片和充电电流测量电路；其中，所述模拟电池电路至少包括：供电端口、第一控制端口、第一PMOS管、第一NMOS管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、整流二极管、模拟电池内阻和第一电容；其中：所述供电端口与供电电源电连接；所述第一PMOS管的源极与所述供电端口电连接，所述第一PMOS管的漏极与所述整流二极管的正向接入端电连接，所述第一PMOS管的栅极与所述第一NMOS管的漏极电连接；所述第一NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第一NMOS管的栅极与所述第三电阻的一端电连接，所述第三电阻的另一端连接至所述第一控制端口，在所述第一控制端口输出的控制信号的控制下导通或关断所述第一PMOS管；所述第一电阻电连接在所述供电端口与所述第一PMOS管的栅极之间；所述第二电阻电连接在所述第一NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述模拟电池内阻与所述第一电容并联，并电连接在所述整流二极管的反向接入端与所述供电电源的地端之间；所述待检测电路至少包括：第二控制端口、待测电阻、第二PMOS管、第二NMOS管、第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二输出端；其中：所述待测电阻的一端与所述整流二极管的反向接入端电连接，所述待测电阻的另一端与所述第二PMOS管的漏极电连接，所述第二PMOS管的源极与所述第二输出端电连接，所述第二PMOS管的栅极与所述第二NMOS管的漏极电连接；所述第二NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第二NMOS管的栅极与所述第六电阻的一端电连接，所述第六电阻的另一端连接至所述第二控制端口，在所述第二控制端口输出的控制信号的控制下导通或关断所述第二PMOS管；所述第四电阻电连接在所述第二NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述第五电阻电连接在所述第二PMOS管的栅极与所述第二输出端之间；所述弹力探针的两个用于检测充电芯片的针脚分别与所述第二输出端口和所述供电电源的地端电连接；所述充电芯片连接至所述第二输出端口与所述供电电源的地端之间，以为所述模拟电池电路充电，在所述充电芯片为所述模拟电池电路充电时，产生电流流经所述待测电阻；所述充电电流测量芯片的第一检测接入端与第二检测接入端电连接至所述待测电路的两端；所述充电电流测量芯片的输出端输出电压测量值，所述电压测量值是根据流经所述待测电阻的电流得到的。