[发明专利]化学反应光谱的CIELAB色空间色差△E与物质量计算方法在审

专利信息
申请号: 201810840688.2 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN108918758A 公开(公告)日: 2018-11-30
发明(设计)人: 王飞;葛娜;何浩;王立杉;邹明强;崔宗岩;王涛;王宇曦;张昂;张妍妍;宁建华 申请(专利权)人: 王飞
主分类号: G01N31/16 分类号: G01N31/16;G01N21/31
代理公司: 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 代理人: 刘阳
地址: 066000 河北省*** 国省代码: 河北;13
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了化学反应光谱的CIELAB色空间色差△E与物质量计算方法,对化学反应容器内的化学反应溶液在可见光波长范围内依次测量加入的不同反应物体积V值对应的吸光度值,并计算为CIELAB色空间的色差△E同步测量加入的不同反应物体积V值对应的pH值、氢离子浓度c[H+]值,将色差△E值、pH值、c[H+]值经过数据降噪后计算出对应的△E值、pH值、c[H+]噪值,将该△E值参数与加入的不同反应物体积V值计算出△E值,并与对应的pH值、c[H+]噪值建立平面直角坐标曲线,实现了化学反应同步测量光光谱谱曲线测量的计算方法,可实现化学反应测量的自动化、批量化的检测规模检测。
搜索关键词: 化学反应 色差 反应物 光谱 同步测量 质量计算 测量 氢离子 化学反应容器 平面直角坐标 可见光波长 数据降噪 批量化 谱曲线 吸光度 检测 自动化
【主权项】:
1.化学反应光谱的CIELAB色空间△E值与物质量计算方法,其特征在于,计算步骤包括:对化学反应溶液在可见光波长范围内测量加入的不同反应物体积V值对应的一组波长的吸光度值,计算色差△E(CIELAB色空间的色差△E*ab,按照公式或者计算,CIE DE 2000总色差△E00按照公式计算,△E*ab和△*00统称为本发明的CIELAB色空间的色差△E),将该组△E值的数据经过数学方程降噪后,计算出该点的△E参数,将△E与加入的不同反应物体积V值计算出△E的衍生参数△E,同步测量加入的不同反应物体积V值对应的pH值,将pH值计算为氢离子浓度c[H+],将pH值和c[H+]数据经过数学方程降噪后为pH值和c[H+]噪,再将衍生参数△E按加入的不同反应物体积V值顺序与对应的pH值、c[H+]噪建立平面直角坐标系,该平面直角坐标系中的曲线即为化学反应CIELAB色空间△E参数与加入反应物体积V同步测量的体积V值、pH值、离子浓度c[H+]的物质特征量的坐标曲线;S01:根据加入的不同反应物体积V值的第x点测量的吸光度值,计算该测量点的参数的△Ex值,其中x=1,2,3,…;S02:根据加入的不同反应物体积V值的第y点测量的吸光度值,计算该测量点的的△Ey值,其中y=2,3,4,…;S03:根据第x点测量的pHx值,其中x=1,2,3,…,计算该测量点的c[H+](mo/)x值,其中x=1,2,3,…;S04:根据第y点测量的pHy值,其中y=2,3,4,…,计算该测量点的c[H+]y值,其中y=2,3,4,…;S05:依次将获得的△Ex值、△Ey值、pHx值、pHy值、c[H+]x值、c[H+]y值通过数学方程降噪计算为降噪后的△Ex噪值、△Ey噪值、pHx噪值、pHy噪、c[H+]x噪值、c[H+]y噪值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于王飞,未经王飞许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810840688.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top