[发明专利]化学反应光谱的CIELAB色空间的a*值与物质量关系计算方法在审
申请号: | 201810840972.X | 申请日: | 2018-07-27 |
公开(公告)号: | CN108918760A | 公开(公告)日: | 2018-11-30 |
发明(设计)人: | 王飞;贾强;张昂;杨志伟;单鹏;王硕;邹明强;席飞;赵永芳;李婧奕;王宇曦 | 申请(专利权)人: | 王飞 |
主分类号: | G01N31/16 | 分类号: | G01N31/16;G01N21/31 |
代理公司: | 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 | 代理人: | 刘阳 |
地址: | 066000 河北省*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了化学反应光谱的CIELAB色空间的a*值与物质量关系计算方法,将化学反应容器内的化学反应溶液在可见光波长范围内依次测量加入的不同反应物体积V值对应的吸光度值,计算为CIELAB色空间参数红‑绿色品指数值a*值,同步测量加入的不同反应物体积V值对应的pH值或者氢离子浓度c[H+]值,将a*值、pH值、c[H+]值经过数据降噪后计算出对应的a*噪值、pH噪值、c[H+]噪值,将该a*噪值参数与加入的不同反应物体积V值计算出a*衍值,并与对应的pH噪值或者c[H+]噪值建立平面直角坐标曲线,实现了化学反应同步测量可见光光谱谱曲线测量的计算方法,可实现化学反应光谱滴定测量的自动化、批量化的检测。 | ||
搜索关键词: | 化学反应 反应物 光谱 同步测量 质量关系 氢离子 测量 化学反应容器 平面直角坐标 可见光波长 可见光光谱 滴定测量 数据降噪 批量化 谱曲线 吸光度 自动化 检测 | ||
【主权项】:
1.化学反应光谱的CIELAB色空间的a*值与物质量关系计算方法,其特征在于,计算步骤包括:对化学反应溶液在可见光波长范围内测量加入的不同反应物体积V值所对应的一组波长的吸光度值,按照CIELAB计算公式依次计算为CIELAB色空间的对应的a*参数,将a*值数据经过数学方程降噪后,计算出对应的a*噪参数,将a*噪与加入的不同反应物体积V值计算出a*噪的衍生参数a*衍,同步测量加入的不同反应物体积V值对应的pH值,将pH值计算为c[H+],将pH值和c[H+]数据经过数学方程降噪后为pH噪值和c[H+]噪,再将衍生参数a*衍按加入的不同反应物体积V值顺序与对应的pH值噪、c[H+]噪建立平面直角坐标系,该平面直角坐标系中的曲线即为化学反应CIELAB色空间的a*衍参数与反应物体积V代表的物质特征量的坐标曲线;S01:根据加入的不同反应物体积V值的第x点测量的吸光度值,计算该测量点的CIELAB色空间参数红‑绿色品指数值的a*x值,其中x=1,2,3,…;S02:根据加入的不同反应物体积V值的第y点测量的吸光度值,计算该测量点的CIELAB色空间参数红‑绿色品指数值的a*y值,其中y=2,3,4,…;S03:根据第x点测量的pHx值,其中x=1,2,3,…,计算该测量点的c[H+]x(mol/L)值,其中x=1,2,3,…;S04:根据第y点测量的pHy值,其中y=2,3,4,…,计算该测量点的c[H+]y值,其中y=2,3,4,…;S05:依次将获得的a*x值、a*y值、pHx值、pHy值、c[H+]x值、c[H+]y值通过数学方程降噪计算为降噪后的a*x噪值、a*y噪值、pHx噪值、pHy噪、c[H+]x噪值、c[H+]y噪值。
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