[发明专利]一种用于复杂构形回转体超声检测的环形多轴扫查装置

摘要

本发明公开了一种用于复杂构形回转体超声检测的环形多轴扫查装置，包括C轴、Y轴、Z轴、A轴，C轴为环形扫查轴，包括一个环形扫查轨道，环形扫查轨道相对的两端设置有第一滑块；Y轴为横轴，横轴的两端分别固定在所述第一滑块上，横轴可以沿环形扫查轴水平旋转；Y轴包括一个水平平移轨道，Y轴上设置有第二滑块，第二滑块可以沿着水平平移轨道平移；Z轴为竖轴，Z轴包含垂直平移轨道，Z轴上设置有第三滑块，第三滑块可以沿着垂直平移轨道平移，Z轴靠近待测工件的一端为O点，A轴的一端通过O点与Z轴进行铰接，A轴的另一端连接有超声探头，向待测工件发射超声波。该装置使回转体工件无需旋转、无需装卡，即可完成全覆盖扫查检测。

主权项

1.一种用于复杂构形回转体超声检测的环形多轴扫查装置，其特征在于，包括C轴、Y轴、Z轴、A轴，所述C轴为环形扫查轴，包括一个环形扫查轨道，所述环形扫查轨道相对的两端设置有第一滑块；所述Y轴为横轴，所述横轴的两端分别固定在所述第一滑块上，所述横轴可以沿环形扫查轴水平旋转；所述Y轴包括一个水平平移轨道，所述Y轴上设置有第二滑块，所述第二滑块可以沿着水平平移轨道平移；所述Z轴为竖轴，所述Z轴包含垂直平移轨道，所述Z轴上设置有第三滑块，所述第三滑块可以沿着垂直平移轨道平移，所述Z轴靠近待测工件的一端为O点，所述A轴的一端通过O点与所述Z轴进行铰接，所述A轴的另一端连接有超声探头，向待测工件发射超声波。