[发明专利]一种用于玻璃颗粒的测量装置在审

专利信息
申请号: 201810843047.2 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN108663294A 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 仇杰;陈世林;颜志刚;邱亚峰 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱宝庆
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种用于玻璃颗粒的测量装置,包括滑动导轨、连接装置、测量装置、滚轮装置、光学平板、外形支架;外形支架固定在水平平台上,滚轮装置设置于外形支架上,光学平板设置于滚轮装置上且沿滚轮装置移动,直径分布不均的玻璃颗粒放置于光学平板上,滑动导轨设置于外形支架上且位于光学平板上方,连接装置设置于滑动导轨上且沿滑动导轨移动,测量装置设置于连接装置上用于测量玻璃颗粒的直径。本发明解决了人工测量效率低、出错率高的问题。
搜索关键词: 测量装置 光学平板 滚轮装置 滑动导轨 玻璃颗粒 连接装置 支架 测量玻璃 人工测量 水平平台 支架固定 直径分布 出错率 移动
【主权项】:
1.一种用于玻璃颗粒的测量装置,其特征在于,包括滑动导轨(1)、连接装置(2)、测量装置(3)、滚轮装置(4)、光学平板(5)、外形支架(6);其中外形支架(6)固定在水平平台上,滚轮装置(4)设置于外形支架(6)上,光学平板(5)设置于滚轮装置(4)上且沿滚轮装置(4)移动,直径分布不均的玻璃颗粒放置于光学平板(5)上,滑动导轨(1)设置于外形支架(6)上且位于光学平板(5)上方,连接装置(2)设置于滑动导轨(1)上且沿滑动导轨(1)移动,测量装置(3)设置于连接装置(2)上用于测量玻璃颗粒的直径。
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