[发明专利]一种基于响应面的替代曲面拟合方法有效

专利信息
申请号: 201810844068.6 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN109271659B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 李璞;胡松喜;黄长征 申请(专利权)人: 韶关学院
主分类号: G06F30/17 分类号: G06F30/17
代理公司: 广州骏思知识产权代理有限公司 44425 代理人: 吴静芝
地址: 512005 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种基于响应面的替代曲面拟合方法,包括如下步骤:获取多曲率曲面的最大高斯曲率kmax和和最小高斯曲率kmin;在区间[0,1]上进行一维拉丁超立方采样,映射到勒让德基函数的定义域区间和曲率区间[kmin,kmax];利用最小二乘法拟合出基于勒让德基函数构造的响应面;利用模拟退火算法对响应面进行寻优获得最优曲率kbest构造单曲率替代曲面,计算该单曲率替代曲面与原多曲率曲面的拟合误差;将该单曲率替代曲面与原多曲率曲面的拟合误差与预设的工程允许误差相比较;若其小于预设的工程允许误差,输出拟合成功。本发明所述的基于响应面的替代曲面拟合方法具有实现生产线参数化,降低生产成本,提高生产效率的优点。
搜索关键词: 一种 基于 响应 替代 曲面 拟合 方法
【主权项】:
1.一种基于响应面的替代曲面拟合方法,其特征在于,包括如下步骤:获取多曲率曲面的最大高斯曲率kmax和最小高斯曲率kmin;在区间[0,1]上进行一维拉丁超立方采样,映射到勒让德基函数的定义域区间,获得勒让德基函数采样点集j=;同时映射到曲率区间[kmin,kmax],获得曲率采样点集k=;其中,m为采样点数量;以曲率采样点集k=构造单曲率曲面,并计算每一单曲率曲面与原多曲率曲面的拟合误差;以每一单曲率曲面与原多曲率曲面的拟合误差,利用最小二乘法拟合出基于勒让德基函数构造的响应面;利用模拟退火算法对响应面进行寻优获得最优勒让德基函数自变量参数,映射回曲率区间[kmin,kmax],得到最优曲率kbest;根据最优曲率kbest构造单曲率替代曲面,计算该单曲率替代曲面与原多曲率曲面的拟合误差;将该单曲率替代曲面与原多曲率曲面的拟合误差与预设的工程允许误差相比较;若其不小于预设的工程允许误差,输出拟合失败;若其小于预设的工程允许误差,输出拟合成功。
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