[发明专利]中子单粒子效应故障率的评估方法及评估装置在审
| 申请号： | 201810844226.8 | 申请日： | 2018-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN109145395A | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 王群勇 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 100089 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种中子单粒子效应故障率的评估方法及评估装置，该方法包括：获取评估对象NSEE截面；根据所述NSEE截面和应用环境下的中子注量率，计算所述评估对象的NSEE故障率；其中，所述NSEE截面是根据所述评估对象中元器件的中子单粒子效应历史试验数据所确定的。本发明实施例提供的中子单粒子效应故障率的评估方法，利用评估对象的NSEE截面和应用环境下的中子注量率，计算评估对象的NSEE故障率，由于评估对象中元器件的NSEE截面是根据历史试验数据所确定的，从而可以在产品研制的初步设计阶段评估产品的NSEE故障率。 | ||
| 搜索关键词： | 故障率 评估对象 单粒子效应 评估装置 试验数据 应用环境 中子注量 元器件 评估 产品研制 计算评估 评估产品 设计阶段 | ||
【主权项】：
1.一种中子单粒子效应故障率的评估方法，其特征在于，包括：获取评估对象中子单粒子效应NSEE截面；根据所述NSEE截面和应用环境下的中子注量率，计算所述评估对象的NSEE故障率；其中，所述NSEE截面是根据所述评估对象中元器件的中子单粒子效应历史试验数据所确定的。
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