[发明专利]一种光纤耦合CCD组件测试仪及测试方法在审

专利信息
申请号: 201810867635.X 申请日: 2018-08-02
公开(公告)号: CN109084962A 公开(公告)日: 2018-12-25
发明(设计)人: 于渝 申请(专利权)人: 重庆港宇高科技开发有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 尹丽云
地址: 401121 重庆市北部新区星*** 国省代码: 重庆;50
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种光纤耦合CCD组件测试仪及测试方法,测试仪主要包括:光源单元,用于提供组件测试所需的光源及测试图像;采集单元,用于采集被测光纤耦合CCD组件的光电参数;测试单元,与采集单元连接用于根据采集的光电参数进行测试;本发明实现了CCD组件的全参数、全功能自动测试,实现了全过程一次性自动测量,极大的降低对测试人员要求,统一了生产厂家和用户的测量条件,规范了检验步骤,适宜大批量产品的生产检测。
搜索关键词: 测试 光纤耦合 测试仪 采集单元 光电参数 一次性自动测量 采集 测量条件 测试单元 测试图像 光源单元 人员要求 生产检测 提供组件 自动测试 全参数 全功能 光源 检验 统一 生产
【主权项】:
1.一种光纤耦合CCD组件测试仪,其特征在于,包括:光源单元,用于提供组件测试所需的光源及测试图像;采集单元,用于采集被测光纤耦合CCD组件的光电参数;测试单元,与采集单元连接用于根据采集的光电参数进行测试;所述测试单元包括:控制模块,用于发布控制指令;执行模块,用于根据控制指令调整测试条件,并驱动采集单元在进行参数采集;处理模块,用于根据所述光电参数进行计算分析,获取测试结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆港宇高科技开发有限公司,未经重庆港宇高科技开发有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810867635.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top