[发明专利]传感器设备和用于具有至少一个化学或电化学探测装置的传感器设备的制造方法在审

专利信息
申请号: 201810869872.X 申请日: 2018-08-02
公开(公告)号: CN109384188A 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: A·丹伦贝格;M·施瓦茨;S·齐默尔曼;S·T·耶格 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: B81B1/00 分类号: B81B1/00;G01L9/00;G01N27/30;B81B7/02;B81C1/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 郭毅
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种所述传感器设备,所述传感器设备具有:衬底(10)以及在所述衬底(10)上和/或在所述衬底(10)中构造的至少一个化学或电化学探测装置(12),其具有结构化到所述衬底(10)中的探测开口(14)并且如此构造,使得在所述探测开口(14)中至少一种待探测的材料的存在引起由所述探测装置(12)输出的或在所述探测装置(12)上量取的第一传感器信号的变化,其中,所述探测开口(12)包括穿过所述衬底(10)的第一侧(10a)结构化的入口(16)并且包括第一空腔(18),所述入口(16)通到所述第一空腔中。此外,本发明涉及一种用于具有至少一个化学或电化学探测装置(12)的传感器设备的制造方法。
搜索关键词: 传感器设备 探测装置 衬底 电化学 探测 开口 第一空腔 结构化 第一传感器 量取 制造 穿过 输出
【主权项】:
1.一种传感器设备,所述传感器设备具有:衬底(10);和在所述衬底(10)上和/或在所述衬底(10)中构造的至少一个化学或电化学探测装置(12),其具有结构化到所述衬底(10)中的探测开口(14)并且如此构造,使得在所述探测开口(14)中至少一种待探测的材料的存在引起由所述探测装置(12)输出的或在所述探测装置(12)上量取的第一传感器信号的变化;其特征在于,所述探测开口(12)包括穿过所述衬底(10)的第一侧(10a)结构化的入口(16)并且包括第一空腔(18),所述入口(16)通到所述第一空腔中。
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