[发明专利]一种X射线荧光光谱快速测定花岗岩中主、次、微量成分的方法

摘要

本发明属于荧光光谱检测领域，具体涉及一种X射线荧光光谱快速测定花岗岩中主、次、微量成分的方法。本发明采用熔融法制样，样品经硝酸锂预氧化后，选择质量比为12:22的四硼酸锂和偏硼酸锂混合试剂作为熔剂，以碘化铵为脱模剂，制备熔片。采用花岗岩等标准物质作为校准样品，并通过人工合成样品进一步扩大元素分析范围，通过变化的理论α系数法校正元素间的吸收增强效应，建立了花岗岩中二氧化硅、三氧化二铝、氧化钾、氧化钠、氧化铁、氧化钙、氧化镁、氧化锰、五氧化二磷、二氧化钛、钡、锶、硫、铷、锆15种组分的X射线荧光光谱法。该方法具有前处理简单、检测速度快、成本低、可同时分析主、次及微量元素等优点，极大提升了检测效率。

主权项

1.一种X射线荧光光谱快速测定花岗岩中主、次、微量成分的方法，其特征在于：包括以下步骤：1）样品制备：将样品和混合熔剂混合均匀后，加入硝酸锂溶液，预氧化后；以碘化铵为脱模剂，升温熔融；将熔融物倒入已预热的模具中，冷却成型后将熔片取出，作好标记并放入干燥器内待测；2）系列校准样品的选取：选取花岗岩、花岗闪长岩、石英砂岩、页岩、玄武岩、水系沉积物、土壤、钾长石、钠长石、硅质砂岩、高岭土的有证标准物质，并以这些有证标准物质为基础，将其中两个或两个以上的标准物质按任意比例混合，增加校准样品的数量，并使各元素含量呈一定的梯度分布，从而得到适合花岗岩检测的系列校准样品；将系列校准样品按照步骤1）的方法制样；3）以S8 Tiger型波长色散X射线荧光光谱仪为检测仪器，以步骤2）制样后的系列校准样品为检测对象，对花岗岩中各元素的测定条件进行优化，确定各元素的测试条件，并采用变化的理论α系数法校正元素间的吸收增强效应；4）按照步骤3）确定的测试条件测定所有经制样后的校准样片，并绘制校准曲线；5）在步骤3）确定的测试条件下，对步骤1）处理后的待测样进行检测，得到结果。