[发明专利]一种荧光探针法测定表面活性物质临界胶束浓度的方法有效
| 申请号： | 201810873598.3 | 申请日： | 2018-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN109270035B | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 谭春华;张林娜;陈洁;黄旭光;蒙红云 | 申请（专利权）人： | 华南师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 广州容大专利代理事务所(普通合伙) 44326 | 代理人： | 刘新年 |
| 地址： | 510000 广东省广州市番禺区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉化学分析技术领域，具体为一种荧光探针法测定表面活性物质临界胶束浓度的方法。本发明方法采用n‑B18H22为荧光探针物质，发现阴离子表面活性剂SDS能增强n‑B18H22的荧光。在最佳条件下,荧光强度与SDS的浓度分别在0‑8.2×10‑3mol/L及8.2×10‑3mo/L‑3.27×10‑2mol/L范围内分段成良好的线性关系，曲线的拐点对应的表面活性剂浓度即为其临界胶束浓度(CMC)，据此，建立了本发明的测定CMC的简单荧光方法。结果表明由该法测定的CMC与已报道值符合，说明方法的可行性与准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 临界胶束 荧光 表面活性物质 荧光探针法 阴离子表面活性剂SDS 化学分析技术 表面活性剂 线性关系 荧光探针 最佳条件 拐点 分段 发现 | ||
【主权项】：
1.一种荧光探针法测定表面活性物质临界胶束浓度的方法，，其特征在于，所述方法中的荧光探针物质为n‑B18H22，所述n‑B18H22结构式为：![]()
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