[发明专利]相位校正方法及激光投影机有效

专利信息
申请号: 201810876008.2 申请日: 2018-08-03
公开(公告)号: CN110794643B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 范昌贤 申请(专利权)人: 台达电子工业股份有限公司
主分类号: G03B21/20 分类号: G03B21/20
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 王玉双;李岩
地址: 中国台湾*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种相位校正方法,包含下列步骤:(a)产生同步信号并传输至激光驱动器;(b)根据同步信号的时序控制激光光源的开关;(c)测量激光光源的激光依序经过荧光轮及色轮后的第一光强度;(d)改变荧光轮或是色轮的相位;(e)测量激光依序经过荧光轮及色轮后的第二光强度;(f)再次改变荧光轮或是色轮的相位;(g)测量激光依序经过荧光轮及色轮后的第三光强度;(h)当第二光强度大于第一光强度,且第三光强度大于第二光强度时,或者当第二光强度小于第一光强度,且第三光强度大于第一光强度时,重复步骤(f)及步骤(g)。
搜索关键词: 相位 校正 方法 激光 投影机
【主权项】:
1.一种相位校正方法,应用于一激光投影机,其特征在于,该相位校正方法包含下列步骤:/n(a)利用一处理器产生一同步信号并传输至一激光驱动器;/n(b)该激光驱动器根据该同步信号的一时序控制一激光光源的开关;/n(c)利用一光检测器测量该激光光源的一激光依序经过一荧光轮及一色轮后的一第一光强度;/n(d)改变该荧光轮的相位或是该色轮的相位;/n(e)利用该光检测器测量该激光依序经过该荧光轮及该色轮后的一第二光强度;/n(f)再次改变该荧光轮的相位或是该色轮的相位;/n(g)利用该光检测器测量该激光依序经过该荧光轮及该色轮后的一第三光强度;以及/n(h)当该第二光强度大于该第一光强度,且该第三光强度大于该第二光强度时,重复该步骤(f)及该步骤(g),或者当该第二光强度小于该第一光强度,且该第三光强度大于该第一光强度时,重复该步骤(f)及该步骤(g)。/n
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