[发明专利]基片处理方法、计算机存储介质和基片处理系统在审

专利信息
申请号: 201810877240.8 申请日: 2018-08-03
公开(公告)号: CN109390219A 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 小林真二 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/027 分类号: H01L21/027;H01L21/3065
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳;徐飞跃
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种在该基片上层叠地形成多个图案的基片处理方法、计算机存储介质和基片处理系统。对于层叠在基片上的两层以上的图案的相关性,基于上层图案的EPE、下层图案的EPE和两层图案的套刻精度,来计算作为该两层图案间的错位量的IPFE。在计算出的IPFE超过规定的阈值(IPFE预测值)的情况下,修正规定处理中的处理条件,使得该IPFE小于规定的阈值。由此,在基片上层叠地形成多个图案时,能够使该多个图案适当化。
搜索关键词: 图案 两层 计算机存储介质 基片处理系统 基片处理 上层 错位量 套刻 下层 修正 预测
【主权项】:
1.一种基片处理方法,其对基片进行多个规定处理,在该基片上层叠地形成多个图案,所述基片处理方法的特征在于,包括:计算步骤,基于层叠在基片上的两层图案中的上层图案的端部位置误差、下层图案的端部位置误差和该两层图案的套刻精度,计算作为该两层图案间的错位量的图案间错位量;和修正步骤,在所述图案间错位量超过规定的阈值的情况下,修正所述规定处理中的处理条件,使得该图案间错位量低于规定的阈值。
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