[发明专利]量测方法在审
申请号: | 201810877346.8 | 申请日: | 2018-08-03 |
公开(公告)号: | CN108957806A | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 宋振莉 | 申请(专利权)人: | 惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 亓赢 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请提供一种量测方法,包括:在第一条件下,量测第一点的背光亮度L0A和面板亮度L1A,量测第二点的背光亮度L0B和面板亮度L1B;在第二条件下,量测第一点的背光亮度L0'A和面板亮度L1'A;在第三条件下,量测第二点的背光亮度L0'B和面板亮度L1'B;在第四条件下,量测第一点的背光亮度L0″A和面板亮度L1″A,量测第二点的背光亮度L0″B和面板亮度L1″B;其中,所述第一条件为保留第一、第二偏光片的面板,所述第二条件为去掉第一偏光片、保留第二偏光片的面板,所述第三条件为保留第一偏光片、去掉第二偏光片的面板,所述第四条件为去掉第一、第二偏光片的面板;通过量测的多个背光亮度和多个面板亮度,并将测得的数据进行归一化处理后,确定液晶的液晶效率。 | ||
搜索关键词: | 背光 量测 和面板 偏光片 第一条件 保留 归一化处理 液晶效率 液晶 申请 | ||
【主权项】:
1.一种量测方法,其特征在于,包括:在第一条件下,量测第一点的背光亮度L0A和面板亮度L1A,量测第二点的背光亮度L0B和面板亮度L1B;在第二条件下,量测第一点的背光亮度L0'A和面板亮度L1'A;在第三条件下,量测第二点的背光亮度L0'B和面板亮度L1'B;在第四条件下,量测第一点的背光亮度L0”A和面板亮度L1”A,量测第二点的背光亮度L0”B和面板亮度L1”B;其中,所述第一条件为保留第一、第二偏光片的面板,所述第二条件为去掉第一偏光片、保留第二偏光片的面板,所述第三条件为保留第一偏光片、去掉第二偏光片的面板,所述第四条件为去掉第一、第二偏光片的面板;其中,对量测的背光亮度L0A、L0B、L0'A、L0'B、L0”A、L0”B和面板亮度L1A、L1B、L1'A、L1'B、L1”A、L1”B数据进行归一化处理;将归一化后得到的数据代入液晶效率η的公式,确定液晶效率。
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