[发明专利]一种高精度光学膜吸收轴测量装置在审
申请号: | 201810882969.4 | 申请日: | 2018-08-06 |
公开(公告)号: | CN108955579A | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 谭海斌;康政纲;谢水龙;陈志忠 | 申请(专利权)人: | 深圳精创视觉科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市龙华区龙华*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明属于光学检测领域,尤其涉及一种高精度光学膜吸收轴测量装置,包括测量工作台、光源模块、退偏器、标准偏光模块、供放置待测光学膜的产品载台、光电探测器以及电性连接所述光电探测器的数据处理模块,使用时仅需将待测光学膜放置于产品载台中,光源模块发射的光依次经过所述退偏器、标准偏光模块、产品载台中的待测光学膜后入射到所述光电探测器,引起光电效应,所述数据处理模块根据所述光电探测器的光电效应获取待测光学膜的吸收轴角度,由于光源模块发射的光经退偏器后被过滤成非偏振光,因而不会对测量结果造成影响,测量精度高,本发明整体结构简单,易于安装使用和后期维护,制造和使用成本低,省时省力,工作效率高,应用前景广阔。 | ||
搜索关键词: | 光学膜 光电探测器 光源模块 退偏器 吸收轴 数据处理模块 测量装置 产品载台 光电效应 偏光 应用前景广阔 测量精度高 工作效率高 电性连接 非偏振光 光学检测 发射 工作台 入射 省时 省力 过滤 测量 制造 维护 | ||
【主权项】:
1.一种高精度光学膜吸收轴测量装置,其特征在于,包括:测量工作台,供承载设置在其上的其它模块;光源模块,为测量过程提供光照;退偏器,设置在所述光源模块后端,用于对所述光源模块发射的光进行过滤,使之过滤成非偏振光;标准偏光模块,设置在所述退偏器后端,为测量结果提供吸收轴角度基准;产品载台,设置于所述标准偏光模块后端,供承载待测光学膜;光电探测器,设置于所述产品载台后端,所述光源模块发射的光依次经过所述退偏器、标准偏光模块、产品载台中的待测光学膜后入射到所述光电探测器,引起光电效应;数据处理模块,电性连接所述光电探测器,根据所述光电探测器的光电效应获取待测光学膜的吸收轴角度。
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