[发明专利]一种空间带电粒子入射位置及能量探测器和探测方法有效
| 申请号： | 201810884231.1 | 申请日： | 2018-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN110806597B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 张鑫;孙越强;白超平;张申毅;张斌全;沈国红;朱光武;陈睿 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29;G01T1/36 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 陈琳琳;武玥 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种空间带电粒子入射位置及能量的探测器，所述探测器包括位置探测单元阵列和后端电路分析处理模块；所述位置探测单元阵列在Y方向和X方向上有若干独立的电荷输出通道，每个电荷输出通道用于在空间带电粒子入射后，在入射位置点的Y方向和X方向上输出不同的电流信号；所述后端电路分析处理模块，对若干电荷输出通道输出的电流信号进行采集，将采集到的电流信号转化为差分电压信号，并将此差分电压信号转换为单端信号进行采集，从而得到带电粒子入射位置和能量。本发明的探测器可以实现对空间带电粒子入射位置的探测，甄别FPGA发生的SEU是否由空间带电粒子引起，并对该空间带电粒子的能量进行检测，为在轨排故提供更加明确的数据支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 空间 带电 粒子 入射 位置 能量 探测器 探测 方法 | ||
【主权项】：
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