[发明专利]机芯主板的LVDS/V-by-one信号测试治具在审
| 申请号： | 201810888080.7 | 申请日： | 2018-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN109116214A | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 梁炎文;李业生 | 申请（专利权）人： | TCL王牌电器（惠州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 张志江 |
| 地址： | 516006 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种机芯主板的LVDS/V‑by‑one信号测试治具，包括机架，所述机架用于安装所述机芯主板，所述测试治具还包括测试针、信号转接组件以及与所述信号转接组件连接的信号连接线，所述信号转接组件用于将所述测试针测得的所述机芯主板的LVDS/V‑by‑one信号输出至所述信号连接线；所述信号转接组件包括转接座，所述转接座开设有与所述测试针对应并匹配的针脚孔，所述测试针的一端与所述机芯主板上的LVDS/V‑by‑one信号测试点对接，所述测试针的另一端插入所述针脚孔。本发明机芯主板的LVDS/V‑by‑one信号测试治具的抗干扰性能好和测试效率高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 机芯主板 信号转接组件 测试针 测试治具 信号连接线 针脚孔 转接座 信号测试治具 抗干扰性能 测试效率 测试点 匹配 测试 输出 | ||
【主权项】：
1.一种机芯主板的LVDS/V‑by‑one信号测试治具，其特征在于，包括机架，所述机架用于安装所述机芯主板，所述测试治具还包括测试针、信号转接组件以及与所述信号转接组件连接的信号连接线，所述信号转接组件用于将所述测试针测得的所述机芯主板的LVDS/V‑by‑one信号输出至所述信号连接线；所述信号转接组件包括转接座，所述转接座开设有与所述测试针对应并匹配的针脚孔，所述测试针的一端与所述机芯主板上的LVDS/V‑by‑one信号测试点对接，所述测试针的另一端插入所述针脚孔。
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