[发明专利]显示基板的制造方法、显示基板、显示装置有效

专利信息
申请号: 201810890631.3 申请日: 2018-08-07
公开(公告)号: CN109061914B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 王骁;马禹;闫岩 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G02F1/1362;H01L27/12
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 柴亮;张天舒
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种显示基板的制造方法、显示基板和显示装置,属于显示技术领域,其可至少部分解决现有的ADS显示模式的显示基板中,像素电极与栅极短路难于在制造过程中检出的问题。本发明的制造方法包括:利用构图工艺在基底上形成像素电极,以及利用构图工艺在基底上形成晶体管的栅极和与栅极连接的栅线;形成钝化层,在钝化层上制作测试过孔,测试过孔连通至像素电极;形成公共电极材料层,公共电极材料层在测试过孔处与像素电极连接;对公共电极材料层和栅线进行开路‑短路测试,如果公共电极材料层与任意栅线短路,则判定与该栅线相连的晶体管中至少有一个晶体管的栅极与对应的像素电极发生短路不良。
搜索关键词: 显示 制造 方法 显示装置
【主权项】:
1.一种显示基板的制造方法,该显示基板包括阵列式分布的多个子像素,每个子像素中包括晶体管、像素电极和公共电极,其特征在于,该制造方法包括:利用构图工艺在基底上形成像素电极,以及利用构图工艺在基底上形成所述晶体管的栅极和与所述栅极连接的栅线;形成钝化层,在所述钝化层上制作测试过孔,所述测试过孔连通至所述像素电极;形成公共电极材料层,所述公共电极材料层在所述测试过孔处与所述像素电极连接;对所述公共电极材料层和所述栅线进行开路‑短路测试,如果所述公共电极材料层与任意栅线短路,则判定与该栅线相连的晶体管中至少有一个晶体管的栅极与对应的像素电极发生短路不良。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810890631.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top