[发明专利]一种1AF料液测量设备在审
| 申请号： | 201810895980.4 | 申请日： | 2018-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN108919330A | 公开（公告）日： | 2018-11-30 |
| 发明（设计）人： | 柏磊;王仲奇;刘晓琳;邵婕文;李新军 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01T1/167 | 分类号： | G01T1/167;G01T3/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于1AF料液测量技术领域，具体涉及一种1AF料液测量设备，包括混合式K边界/X荧光测量装置，在所述混合式K边界/X荧光测量装置的测量腔(8)的入口处设置无源中子测量装置，所述无源中子测量装置包括与所述测量腔(8)的入口相连的、能够通过1AF料液样品(6)的测量通道(1)，设置在所述测量通道(1)外围的若干He3中子管(4)，连接所述He3中子管(4)的电子学系统。该设备基于现有的混合式K边界/X荧光技术，通过添加中子测量装置，实现了Cm、Pu、U的同时定量测量与分析，为后续开展废包壳中铀钚含量的无源中子分析提供技术途径。 | ||
| 搜索关键词： | 料液 中子测量装置 无源 测量设备 测量通道 测量装置 测量腔 中子管 测量技术领域 电子学系统 定量测量 技术途径 入口处 包壳 铀钚 分析 外围 | ||
【主权项】：
1.一种1AF料液测量设备，包括混合式K边界/X荧光测量装置，其特征是：在所述混合式K边界/X荧光测量装置的测量腔(8)的入口处设置无源中子测量装置，所述无源中子测量装置包括与所述测量腔(8)的入口相连的、能够通过1AF料液样品(6)的测量通道(1)，设置在所述测量通道(1)外围的若干He3中子管(4)，连接所述He3中子管(4)的电子学系统。
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