[发明专利]校准插件及其安装件在审
申请号: | 201810905291.7 | 申请日: | 2018-08-10 |
公开(公告)号: | CN109387477A | 公开(公告)日: | 2019-02-26 |
发明(设计)人: | 拉尔夫·伯恩哈特;马蒂亚斯·格罗斯曼 | 申请(专利权)人: | 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 穆森;戚传江 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种校准插件及其安装件。公开了一种用于调节、校准和/或执行光学传感器的功能测试的校准插件,该光学传感器被设计成用于借助于光来测量介质中的至少一个被测变量,该校准插件包括:入口横截面,光通过该入口横截面进入校准插件;出口横截面,光通过该出口横截面离开校准插件;以及设置在入口横截面和出口横截面之间的至少一个阻挡元件,其中阻挡元件不完全地让光与其波长无关地从入口横截面到出口横截面地通过,而是特别是部分地吸收、反射或散射光,其中在出口横截面处的光强度与在入口横截面处的光的强度的比值对应于被测变量的值。本发明还公开了一种用于这种校准插件的安装件。 | ||
搜索关键词: | 校准 插件 出口横截面 入口横截面 安装件 光学传感器 阻挡元件 波长无关 测量介质 功能测试 散射光 反射 吸收 | ||
【主权项】:
1.一种用于调节、校准和/或执行光学传感器的功能测试的校准插件(1),所述光学传感器被设计成用于借助于光来测量介质中的至少一个被测变量,所述校准插件包括:入口横截面(13),光(3)通过所述入口横截面进入校准插件(1),出口横截面(14),光(3)通过所述出口横截面离开校准插件(1),至少一个阻挡元件(12),所述至少一个阻挡元件被布置在入口横截面(13)和出口横截面(14)之间,其中所述阻挡元件(12)不完全地将光(3)与其波长无关地从所述入口横截面(13)传输到所述出口横截面(14),而是特别是部分地吸收、反射或散射光,其中在所述出口横截面(14)处的光强度与在所述入口横截面(13)处的光(3)强度的比值对应于所述被测变量的值。
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