[发明专利]半导体装置以及故障诊断方法在审
| 申请号： | 201810906927.X | 申请日： | 2018-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN110275101A | 公开（公告）日： | 2019-09-24 |
| 发明（设计）人： | 前川智之 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 房永峰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 实施方式涉及半导体装置以及故障诊断方法。根据实施方式，提供一种具有第1模块和第2模块的半导体装置。第2模块被配置在第1模块的输入侧。第1模块具有逻辑电路、自测试电路、输入接口电路以及故障监视电路。自测试电路与逻辑电路连接。输入接口电路被配置在第2模块与自测试电路之间。故障监视电路与输入接口电路连接。 | ||
| 搜索关键词： | 输入接口电路 半导体装置 自测试电路 故障监视电路 故障诊断 电路连接 方法实施 输入侧 与逻辑 配置 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，其中，具备第1模块和与上述第1模块邻接的第2模块，上述第1模块具有：逻辑电路；自测试电路，与上述逻辑电路连接；接口电路，配置在上述第2模块与上述自测试电路之间；以及故障监视电路，与上述接口电路连接。
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