[发明专利]用于检测单晶硅太阳能电池缺陷的方法和装置在审
申请号: | 201810907537.4 | 申请日: | 2018-08-10 |
公开(公告)号: | CN109086827A | 公开(公告)日: | 2018-12-25 |
发明(设计)人: | 文亚伟;冷家冰;徐玉林;刘明浩;郭江亮;李旭 | 申请(专利权)人: | 北京百度网讯科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62;G06N3/04 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 王达佐;马晓亚 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请实施例公开了用于检测单晶硅太阳能电池缺陷的方法和装置。该方法的一具体实施方式包括获取待检测的单晶硅太阳能电池的电致发光图像;将电致发光图像输入到预先训练的缺陷分类模型,得到缺陷信息,缺陷信息用于指示单晶硅太阳能电池所包括的缺陷的缺陷类别,其中缺陷分类模型用于根据输入到其中的单晶硅太阳能电池的电致发光图像预测单晶硅太阳能电池所包括的缺陷的缺陷类别。该实施方式实现了在实时检测在线生产的单晶硅太阳能电池的缺陷的基础上,提高识别单晶硅太阳能电池的缺陷的准确率。 | ||
搜索关键词: | 单晶硅太阳能电池 电致发光 方法和装置 缺陷分类 缺陷类别 缺陷信息 检测 实时检测 图像输入 图像预测 在线生产 准确率 图像 申请 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测单晶硅太阳能电池缺陷的方法,包括:获取待检测的单晶硅太阳能电池的电致发光图像;将所述电致发光图像输入到预先训练的缺陷分类模型,得到缺陷信息,所述缺陷信息用于指示所述单晶硅太阳能电池所包括的缺陷的缺陷类别,其中所述缺陷分类模型用于根据输入到其中的单晶硅太阳能电池的电致发光图像预测单晶硅太阳能电池所包括的缺陷的缺陷类别。
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