[发明专利]一种多芯片组件微流道散热结构的优化方法在审
申请号: | 201810910703.6 | 申请日: | 2018-08-10 |
公开(公告)号: | CN109002644A | 公开(公告)日: | 2018-12-14 |
发明(设计)人: | 黄春跃;何伟;路良坤;王建培;赵胜军;唐香琼 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 | 代理人: | 周雯 |
地址: | 541004 广*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开了一种多芯片组件微流道散热结构的优化方法,该方法以多芯片组件中微流道直径、微流道结构、微流道冷却液进口流速作为设计参数,以有限元模型中最高温度作为目标值,设计了9组有效试验计算仿真,通过正交设计试验方法对试验结果数据做极差分析,得出优化组合及其影响因子的主次关系,在通过实验结果,可做出方差分析,得出对微流道散热性能的影响因子的显著性影响,该方法对其它互连结构优化设计也具有指导作用。 | ||
搜索关键词: | 微流道 多芯片组件 散热结构 影响因子 试验结果数据 正交设计试验 冷却液进口 方差分析 互连结构 极差分析 计算仿真 散热性能 设计参数 优化设计 优化组合 主次关系 显著性 元模型 优化 试验 | ||
【主权项】:
1.一种多芯片组件微流道散热结构的优化方法,其特征在于,具体包括如下步骤:1)建立多芯片组件的三维模型;2)将步骤1)建立的三维模型划分网格导入流体分析软件fluent中进行温度仿真分析;3)确定影响散热性能的影响因素;4)创建正交试验中使用的正交水平因素表;5)根据设计的正交水平因素表设计出9组具有代表性的试验组合;6)建立9组相应结构组合的有限元分析模型;7)分别仿真计算出结果,得出最后的模型中最高温度结果;8)整理数据结果,对数据进行极差分析得出影响基板散热性能的因素主次关系;9)对试验结果数据做方差分析,得出影响基板散热性能的因素显著性关系。
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