[发明专利]基于光栅投影多步相移法的3D打印制品三维缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201810916556.3 申请日: 2018-08-13
公开(公告)号: CN109242828B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: 赵昕玥;连巧龙;何再兴;张树有;谭建荣 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/33;G06T5/00
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 林超
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于光栅投影多步相移法的3D打印制品三维缺陷检测方法。根据待测物体的标准CAD模型3D打印待测物体,投射标准正弦数字光栅到待测物体表面,拍摄条纹图像预处理获得拍摄点云;根据待测物体的标准CAD模型生成标准点云;计算拍摄点云的快速点特征直方图,进行随机采样一致变换获得粗配准点云;采用迭代最近点方式对粗配准点云进行处理获得精配准点云;提取异常点并欧式聚类,获取缺陷的位置和缺陷个数;采用点云生长方法从缺陷的位置生长出缺陷区域点云,对缺陷区域点云进行三维重建。本发明缺陷检测精度高,光栅投影覆盖范围广,检测全面效率高,对环境要求低,可满足实际工业应用需求。
搜索关键词: 基于 光栅 投影 相移 打印 制品 三维 缺陷 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于光栅投影多步相移法的3D打印制品三维缺陷检测方法,其特征在于:步骤1),获取待测物体表面点云及点云预处理阶段:根据待测物体的标准CAD模型3D打印出待测物体,将待测物体放置在桌面上,投射多幅不同初始相位的标准正弦数字光栅到待测物体表面,通过CCD相机连续拍摄物体表面被投射标准正弦数字光栅后的条纹图像,利用反正切函数对条纹图像进行求解得到相位值,将所求的相位值进行解包裹反求得到待测物体的表面点云,然后进行预处理获得拍摄点云;步骤2),获取标准点云阶段:提取待测物体的标准CAD模型的三角形面片的顶点坐标和法向量,在三角形面片上采样生成所需密度的标准点云;步骤3),粗配准阶段:计算拍摄点云的快速点特征直方图,在标准点云中找到与快速点特征直方图相似的点,进行随机采样一致变换获得粗配准点云;步骤4),精配准阶段:采用迭代最近点方式(ICP)对粗配准点云进行处理获得精配准点云;步骤5),提取缺陷阶段:设置缺陷阈值遍历提取异常点,用异常点进行欧式聚类,计算每个类中所有点的重心坐标作为缺陷的位置,获取待测物体表面的各个缺陷位置和缺陷个数;采用点云生长方法从缺陷的位置生长出缺陷区域点云,对缺陷区域点云进行三维重建。
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