[发明专利]I2C总线兼容性测试方法、系统、存储介质及设备有效

专利信息
申请号: 201810917021.8 申请日: 2018-08-13
公开(公告)号: CN109189619B 公开(公告)日: 2023-03-17
发明(设计)人: 匡磊;王磊;蔡雅欣;宋柳佳 申请(专利权)人: 光梓信息科技(上海)有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/263
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 徐秋平
地址: 201203 上海市浦东新区中国(*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种I2C总线兼容性测试的方法、系统、存储介质及设备。所述I2C总线兼容性测试的方法包括:将安装在电子设备中的数学软件中用于产生波形数据的脚本中输入波形参数;在产生的波形数据中插入异常状况数据;通过所述数学软件将所述波形数据发送给信号发生器;所述信号发生器产生信号并等待所述信号被触发;读取所述波形数据并发送到示波器;分析所述示波器波形并读回写入值。本发明解决了现有技术中对I2C总线兼容性测试过程极为复杂并且测试效果不佳的问题。并创造性的利用实验室中的常见仪器和软件,构建了完整的I2C总线兼容性测试系统,降低了系统复杂度,提高了测试覆盖度。
搜索关键词: i2c 总线 兼容性 测试 方法 系统 存储 介质 设备
【主权项】:
1.一种I2C总线兼容性测试方法,其特征在于,所述方法包括:将安装在电子设备中的数学软件中用于产生波形数据的脚本中输入波形参数;在产生的波形数据中插入异常状况数据;通过所述数学软件将所述波形数据发送给信号发生器;所述信号发生器产生信号并等待所述信号被触发;读取所述波形数据并发送到示波器;分析所述示波器波形并读回写入值。
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