[发明专利]电子部件用金属材料及其制造方法、使用其的连接器端子、连接器及电子部件在审
申请号: | 201810921486.0 | 申请日: | 2013-06-27 |
公开(公告)号: | CN108790320A | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 涉谷义孝;深町一彦;儿玉笃志 | 申请(专利权)人: | JX日矿日石金属株式会社 |
主分类号: | B32B15/01 | 分类号: | B32B15/01;C22C5/06;C23C28/02;C25D5/10;C25D5/12;C25D5/48;C25D5/50;C25D7/00;C25D11/36;H01B1/02;C25D3/12;C25D3/30;C25D3/38;C25D3 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 梅黎;鲁炜 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种具有低晶须性、低粘着磨耗性及高耐久性的电子部件用金属材料、使用其的连接器端子、连接器及电子部件。本发明的电子部件用金属材料具备:基材;下层,其形成在基材上且由选自由Ni、Cr、Mn、Fe、Co及Cu所组成的组即A构成元素组中的1种或2种以上所构成;中层,其形成在下层上且由选自由Ag、Au、Pt、Pd、Ru、Rh、Os及Ir所组成的组即B构成元素组中的1种或2种以上所构成;及上层,其形成在中层上且由选自由Ag、Au、Pt、Pd、Ru、Rh、Os及Ir所组成的组即B构成元素组中的1种或2种以上、与选自由Sn及In所组成的组即C构成元素组中的1种或2种的合金所构成;并且下层的厚度为0.05μm以上且低于5.00μm,中层的厚度为0.01μm以上且低于0.50μm,上层的厚度为0.02μm以上且低于0.80μm。 | ||
搜索关键词: | 电子部件 构成元素 金属材料 下层 连接器 连接器端子 中层 自由 基材 上层 高耐久性 晶须 合金 制造 | ||
【主权项】:
1.电子部件用金属材料,其具备:基材;下层,其形成在所述基材上且由选自由Ni、Cr、Mn、Fe、Co及Cu所组成的组即A构成元素组中的1种或2种以上所构成;中层,其形成在所述下层上且由选自由Ag、Au、Pt、Pd、Ru、Rh、Os及Ir所组成的组即B构成元素组中的1种或2种以上所构成;及上层,其形成在所述中层上且由选自由Ag、Au、Pt、Pd、Ru、Rh、Os及Ir所组成的组即B构成元素组中的1种或2种以上、与选自由Sn及In所组成的组即C构成元素组中的1种或2种的合金所构成;并且所述下层的厚度为0.05 μm以上且低于5.00 μm,所述中层的厚度为0.01 μm以上且低于0.50 μm,所述上层的厚度为0.02 μm以上且低于0.80 μm。
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