[发明专利]一种判定合金表面偏析状态的方法以及制造合金的方法有效
| 申请号： | 201810926332.0 | 申请日： | 2018-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN109273055B | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 张少明;贺会军;刘希学;朱捷;徐蕾;王志刚;赵朝辉;张江松;安宁;温余苗;林刚;张富文;师静琳 | 申请（专利权）人： | 北京康普锡威科技有限公司 |
| 主分类号： | G16C20/10 | 分类号： | G16C20/10;G16C20/60;C22C1/02 |
| 代理公司： | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人： | 佟林松 |
| 地址： | 101407 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种判定合金表面偏析状态的方法以及制造合金材料的方法，针对特定材料体系，判定合金表面偏析状态并选定合金的元素组成进行制造，针对需要实现材料表面偏析改性的合金，可以筛选计算出合适的元素添加种类并进行制造；针对需要抑制表面偏析的合金体系，可筛选出抑制表面偏析的元素种类组合并进行制造。可以便捷精确的判定合金表面偏析状态并制造出可调控材料表面偏析状态的特定体系合金。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 判定 合金 表面 偏析 状态 方法 以及 制造 | ||
【主权项】：
1.一种判定二组分合金表面偏析状态的方法，其特征在于，该方法包括：s1，设定二组分合金为AB合金，A和B为合金的两种合金金属元素；通过公式W＝E(A‑B)‑1/2[E(A‑A)+E(B‑B)]计算W的值，其中E(A‑B)为形成A‑B键所需的键能，E(A‑A)为形成A‑A键所需的键能，E(B‑B)为形成B‑B键所需的键能，在A‑A、B‑B或A‑B键不存在键能时，键能取值为0；s2，根据W的值判定合金材料的表面偏析状态，当W≥0，二组分合金不发生表面偏析，当W＜0，二组分合金发生表面偏析。
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