[发明专利]一种基于相位比较的采样坏点识别和校正方法

摘要

本发明公开了一种基于相位比较的采样坏点识别和校正方法，通过设计一种幅频特性一致的滤波器计算已知短数据窗区域内有效采样点的相位来预测下一段时间区域内采样点的相位，比较后剔除坏点，恢复由于干扰或AD截波等原因造成的数据丢失，恢复相电流和差电流为正确波形轨迹。本发明当检测到无效数据时暂时闭锁保护，有效的避免了由于数据失真造成的保护误动；一旦滚动检测到实际采样点的相位与预测相位相一致时，立即开放保护，根据恢复后的相电流或差电流数据值进行动作条件计算，满足条件瞬时跳闸，避免了由于无效数据造成的保护计算数据窗延时，提高了保护动作的可靠性和快速性。

主权项

1.一种基于相位比较的采样坏点识别和校正方法，其特征在于，包括以下步骤：1)设计基于幅频特性一致的短数据窗滤波器，用于计算基波的实部和虚部，二次谐波的实部和虚部，和三次谐波的实部和虚部；2)从设定的初始时刻0时刻为第0个点，到第M‑1点为第一个长度为M的短数据窗，根据步骤1)设计的短数据窗滤波器，计算求得第M‑1点的基波相角α1M‑1和幅值I1，二次谐波相角α2M‑1和幅值I2，三次谐波相角α3M‑1和幅值I3；3)判断采样点数据的有效性，并确定初始基准值；4)确定有效数据窗后，以此数据窗的基波相角为基准相角，对下一个采样点通过比较预测下一采样点的基波相角和实际采样的下一采样点的基波相角来确定是否有效；当采样点无效时暂时闭锁保护或延时跳闸，并采用预测的基波相角通过步骤1)的短数据窗滤波器公式反计算得到预测采样值，替换无效数值；5)继续滚动对下一采样点进行预测并判断是否有效，直至实际检测出的基波相角值与预测的基波相角值之间误差在设定的基波相角差门槛值范围内，重新开放保护；6)根据恢复后的波形数据进行保护逻辑计算，满足保护动作条件时瞬时跳闸。