[发明专利]一种基于光栅成像的缺陷及三维形貌检测方法在审
| 申请号： | 201810930045.7 | 申请日： | 2018-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN108802054A | 公开（公告）日： | 2018-11-13 |
| 发明（设计）人： | 许照林;朱文龙 | 申请（专利权）人： | 苏州富鑫林光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01B11/25 |
| 代理公司： | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人： | 查杰;冯瑞 |
| 地址： | 215011 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于光栅成像的缺陷及三维形貌检测方法，包括以下步骤：步骤一、学习并建立标准模版；步骤二、采集待检产品在光栅成像下的云纹图像；步骤三、对云纹图像进行预处理，得到待检产品的真正的待检区；步骤四、找到所有可能的缺陷位置；步骤五、进行三维形貌检测分析并还原待检产品缺陷的三维信息；步骤六、根据待检产品缺陷的三维信息对待检产品分类处理。本发明的方法利用光栅成像技术解决了产品多样性、差异性带来的问题，结合缺陷检测算法及三维形貌检测算法能够满足目前市场上绝大多数的柔性产品的缺陷检测需求，快速、精准、稳定地检测被测物表面高度微弱不同变化缺陷并还原三维形貌特征，达到替代甚至超越人工检测的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 三维形貌检测 光栅成像 产品缺陷 三维信息 云纹图像 还原 预处理 缺陷检测算法 被测物表面 产品多样性 标准模版 产品分类 缺陷检测 缺陷位置 人工检测 柔性产品 三维形貌 差异性 待检区 算法 采集 检测 替代 分析 学习 | ||
【主权项】：
1.一种基于光栅成像的缺陷及三维形貌检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、学习并建立标准模版；步骤二、采集待检产品在光栅成像下的云纹图像；步骤三、对云纹图像进行预处理，得到待检产品的真正的待检区；步骤四、找到所有可能的缺陷位置；步骤五、进行三维形貌检测分析并还原待检产品缺陷的三维信息；步骤六、根据待检产品缺陷的三维信息对待检产品分类处理。
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