[发明专利]一种基于饱和泵浦-受激辐射探测的超分辨显微方法及系统有效
申请号: | 201810930052.7 | 申请日: | 2018-08-15 |
公开(公告)号: | CN110836876B | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
发明(设计)人: | 匡翠方;王文生;徐良;丁志华;李海峰;刘旭 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡红娟 |
地址: | 310013 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于饱和泵浦‑受激辐射探测的超分辨显微方法及系统,属于超分辨显微成像和非线性光学领域,系统包括光源模块、探测模块和处理模块,样品放置在光源模块与探测模块之间,光源模块包括发出激发光的第一光源、发出读取光的第二光源、调制器件、二色镜以及扫描振镜;探测模块包括光电探测器;光电探测器连接锁相放大器,锁相放大器通讯连接至处理模块。在共聚焦显微术的基础上,通过引入饱和激发光并对激发光进行时域限制,使样品可以缠上荧光高次谐波信号,同时,通过引入另外一束读取激光,使原本要发出的荧光以受激辐射光的形式发射出来,最后通过锁相探测解调出受激辐射光高次谐波信号,即可得到最终的成像结果。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 饱和 辐射 探测 分辨 显微 方法 系统 | ||
【主权项】:
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