[发明专利]一种基于辐射变色薄膜实现束流位置测量的方法

摘要

本发明公开了一种基于辐射变色薄膜实现束流位置测量的方法，该方法包括下述步骤：利用胶片裁剪器将薄膜剪至所需尺寸，采用真空胶带把薄膜粘在薄膜固定框架上；使用螺钉将固定框架、固定槽、束流通道端面三者进行固定；在测量前需对计划用的标定薄膜进行标定，得薄膜剂量‑光密度响应曲线；测量时束流轰击验证薄膜发生变色，经扫描仪扫描后，在后端处理软件输入已标定得曲线关系式将变色区域处理为剂量等高线图，该等高线图可判断束斑位置等相关参数信息。本发明原理可靠简单，可行性高，操作性强，可以实现毫米以下的位置分辨率，与传统束流位置探测器相比，解决了因加速器主机空间受限而无法放置的问题，以满足加速器束流诊断要求。

主权项

1.一种基于辐射变色薄膜实现束流位置测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)测量前，将未辐照的薄膜放置于水膜体中，用给定能量的质子束放射源对薄膜进行辐照，通过电离室测得薄膜变色区域的绝对吸收剂量；2)将接受辐照后的薄膜放置于扫描仪中处理成灰度图，将该图像文件导入剂量处理软件中提取其像素值PV，将像素值PV转化为netOD值，结合电离室测得薄膜的绝对吸收剂量，标定薄膜的绝对吸收剂量‑光密度响应曲线；3)测量时，将对测量不同区域的束斑位置放置不同类型的薄膜，薄膜通过固定组件固定，用记号笔做正反面标记便于后续扫描，接着放入通道口的固定槽中，并用螺钉进行定位紧固；4)辐照后，将薄膜连同固定组件一并取出，拆下薄膜后对变色区域进行处理，用扫描仪扫描图片成灰度图，在剂量分析软件中导入该图像文件及已标定的吸收剂量‑光密度响应曲线关系，从而完成变色区域的绝对吸收剂量可视化操作。