[发明专利]基于灰度变化特征分析的无损射线底片灵敏度判别方法有效
| 申请号： | 201810940669.7 | 申请日： | 2018-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN109035245B | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 姜洪权;高建民;高智勇;王荣喜;李华;程雷;贺帅 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 高博 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种基于灰度变化特征分析的无损射线底片灵敏度判别方法，首先，以灵敏度待评价的无损射线底片数字图像A为对象，框选出像质计所在区域并进行预处理，扩大像质计丝线所在区域灰度和周围区域灰度区别；通过分析计算每列灰度的均值，构建列均值灰度折线图y＝f(x)；对折线图y＝f(x)进行曲线拟合得到光滑曲线y |
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| 搜索关键词： | 基于 灰度 变化 特征 分析 无损 射线 底片 灵敏度 判别 方法 | ||
【主权项】：
1.基于灰度变化特征分析的无损射线底片灵敏度判别方法，其特征在于，首先以灵敏度待评价的无损射线底片数字图像A为对象，框选出像质计所在区域并进行预处理，扩大像质计丝线所在区域灰度和周围区域灰度区别；通过分析计算每列灰度的均值，构建列均值灰度折线图y＝f(x)；对折线图y＝f(x)进行曲线拟合得到光滑曲线y1＝g(x)；最后，分析确定光滑曲线y1＝g(x)中的极小值个数N，即确定底片图形中像质计丝线识别的数目信息，并以此进行灵敏度合格与否判定。
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