[发明专利]多路并行SDIO测试系统有效
| 申请号： | 201810941388.3 | 申请日： | 2018-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN108983075B | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 余健;管辉 | 申请（专利权）人： | 惠州高盛达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 刘羽 |
| 地址： | 516006 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种多路并行SDIO测试系统，包括电脑主机、路由器、测试仪器、合路器、定位治具及多个连接测试板；多个连接测试板分别与路由器电连接，定位治具用于放置多个被测模组，每一连接测试板上设置有一个SDIO读卡器，每一SDIO读卡器用于连接定位治具上的一个被测模组，且合路器用于连接被测模组；电脑主机上设置有第一连接端和第二连接端，第一连接端与路由器电连接，第二连接端与测试仪器电连接；测试仪器还与合路器电连接。多路并行SDIO测试系统可以实现多个模组同时进行测试，还可以提高产线的产测仪器利用率以及车间工人的单位时间的产能，从而降低车间的生产成本，进一步提高产品的市场竞争力。 | ||
| 搜索关键词： | 并行 sdio 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种多路并行SDIO测试系统，其特征在于，包括：电脑主机、路由器、测试仪器、合路器、定位治具及多个连接测试板；多个所述连接测试板分别与所述路由器电连接，所述定位治具用于分别放置多个被测模组，每一所述连接测试板上对应设置有一个SDIO读卡器，每一所述SDIO读卡器用于对应连接所述定位治具上的一个被测模组，且所述合路器用于连接被测模组；所述电脑主机上设置有第一连接端和第二连接端，所述第一连接端与所述路由器电连接，所述第二连接端与所述测试仪器电连接；所述测试仪器还与所述合路器电连接。
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