[发明专利]一种基于TOC理论的OEE改善方法

摘要

本发明公开了一种基于TOC理论的OEE改善方法，通过计算结果形成清晰直观的OEE报表，并且分析造成OEE损失的影响因素。具体的使用了TOC基本理论和其实践方法，建立适用于半导体封装测试流程的OEE改善模型，识别生产过程中影响OEE水平提升的瓶颈设备，计算相应的缓冲量，进而完成对OEE的分析与改善。与现有技术相比，该方法提供了一种切实可行的OEE全面改善方案，使得瓶颈设备的OEE水平有了显著上升，综合效率得到了改善。并且由于瓶颈的优化，大部分设备的OEE水平得到了一定的提升，系统整体的生产效率得到了改善。

主权项

1.一种基于TOC理论的OEE改善方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)建立OEE计算模型：OEE＝时间开动率×性能开动率×合格品率；(2)采集获取OEE计算模型中各项参数；(3)根据OEE计算模型和分析技术，生成设备效率情况的报表；(4)分析报表，得出OEE损失的具体原因；(5)构建瓶颈设备识别，找到生产系统中最薄弱环节；(6)建立时间缓冲模型并计算时间缓冲；(7)根据以上步骤建立OEE改善系统，并采用OEE改善系统对生产过程的OEE进行改善。