[发明专利]一种SiC晶体的制造方法在审

专利信息
申请号: 201810950367.8 申请日: 2018-08-20
公开(公告)号: CN108977886A 公开(公告)日: 2018-12-11
发明(设计)人: 孙月静 申请(专利权)人: 孙月静
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B23/02
代理公司: 北京华际知识产权代理有限公司 11676 代理人: 李浩
地址: 214000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明是一种制造SiC单晶的方法,本发明的主要新颖方面是控制蒸汽传输和温度梯度,其中所述传输被限制在生长晶体的中心区域,而晶体及其周围处于接近零径向温度梯度的条件下。这导致有利形状的生长界面,例如朝向源平坦或略微凸起,降低的晶体应力和降低的晶体缺陷密度。本发明的其他新颖方面包括通过升华和从源自SiC源的颗粒过滤蒸汽来原位致密化SiC源。
搜索关键词: 晶体的 径向温度梯度 晶体缺陷 颗粒过滤 生长界面 温度梯度 蒸汽传输 中心区域 致密化 单晶 凸起 蒸汽 制造 平坦 升华 传输 生长
【主权项】:
1.一种制造SiC单晶的方法,包括:(a)在升华的温度梯度的存在晶种的表面上生长一SiC单晶;(b)在步骤(a)中,控制所述温度梯度,使得晶体中的径向温度梯度为正且基本上浅,并通过将所述通量基本上限制在表面的中心区域来控制含SiC蒸汽的通量。
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