[发明专利]基于频率—相位斜率映射的微波频率测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于频率—相位斜率映射的微波频率测量方法，将待测微波信号分为两路并在这两路微波信号间引入匀速变化的延时差；然后测出引入延时差后的两路微波信号间的相位差随时间变化的斜率；最后根据所述斜率与待测微波信号频率之间的单调线性映射关系，得到待测微波信号频率。本发明还公开了一种基于频率—相位斜率映射的微波频率测量装置。相比现有技术，本发明可有效避免频率测量中的模糊问题，提高频率测量精度，同时系统结构简单，实现成本低廉。

主权项

1.基于频率—相位斜率映射的微波频率测量方法，其特征在于，将待测微波信号分为两路并在这两路微波信号间引入匀速变化的延时差；然后测出引入延时差后的两路微波信号间的相位差随时间变化的斜率；最后根据所述斜率与待测微波信号频率之间的单调线性映射关系，得到待测微波信号频率；所述在这两路微波信号间引入匀速变化的延时差，以及所述测出引入延时差后的两路微波信号间的相位差随时间变化的斜率，均通过微波光子方法在光域实现；所述在这两路微波信号间引入匀速变化的延时差，具体通过以下微波光子方法在光域实现：将一连续光载波信号分为两路；对于其中一路光载波信号，先为其引入匀速变化的延时，再将其中一路所述微波信号电光调制到该延时后的光载波信号上，得到先延时后调制的第一调制光信号；对于另一路光载波信号，先将另一路所述微波信号电光调制到该光载波信号上，再为调制后的调制光信号引入与另一路相同的匀速变化的延时，得到先调制后延时的第二调制光信号；所述测出引入延时差后的两路微波信号间的相位差随时间变化的斜率，具体通过以下微波光子方法在光域实现：分别从第一调制光信号和第二调制光信号中取出同一侧的1阶边带信号；然后将这两路1阶边带信号输入光90º耦合器，并对光90º耦合器的输出信号进行平衡光电探测，得到I/Q中频信号；对所述I/Q中频信号进行信号处理，得到引入延时差后的两路微波信号间的相位差随时间变化的斜率。