[发明专利]一种基于自适应MCKD的早期轴承外圈故障诊断方法在审

专利信息
申请号: 201810956206.X 申请日: 2018-08-21
公开(公告)号: CN109063672A 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 崔玲丽;杜建喜;刘志峰;张超 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G01M13/04
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 沈波
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于自适应MCKD的轴承外圈早期故障诊断方法,该方法为一种针对轴承外圈早期故障的诊断方法。本发明针对MCKD降噪效果受滤波器阶数L及位移顺序M影响的问题,研究了轴承的故障机理,提出了一种基于自适应MCKD的轴承外圈早期故障诊断方法。在不同M值情况下,分别计算Teager谱峭度均值,选取最优位移顺序M,再以Teager谱峭度为目标函数,利用迭代算法搜寻最优滤波器阶数L,通过包络谱提取微弱故障特征。对比最小熵解卷积(MED)算法,本方法显示了更高的准确度,证明了本方法对轴承外圈早期故障诊断的准确性。
搜索关键词: 轴承外圈 早期故障 自适应 诊断 峭度 滤波器阶数 最优滤波器 准确度 迭代算法 故障机理 故障诊断 目标函数 微弱故障 解卷积 最小熵 包络 降噪 阶数 算法 轴承 搜寻 研究
【主权项】:
1.一种基于自适应MCKD的轴承外圈早期故障诊断方法,其特征在于:该方法包括以下具体步骤:步骤(1)输入实测信号,计算信号故障特征频率,先确定参数周期T;步骤(2)给定位移顺序M范围1~7及滤波器长度L范围L1‑L2,输入周期T,分别在M(i)前提下,计算每次M(i)循环的Teager谱峭度均值,i=1,2,..,7;步骤(3)在上(3)中优化的M值下,利用迭代算法对阶数L优化,计算每次循环中Teager谱峭度,选取最佳阶数L;步骤(4)将周期T及最佳参数M、L作为新输入进行MCKD处理,计算包络谱,求得外圈故障特征频率。
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