[发明专利]一种天线型面精度快速测量方法在审
| 申请号： | 201810957477.7 | 申请日： | 2018-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN109059805A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 马小飞;柏宏武;刘博学;王勇;黄桂平;兰亚鹏;程建;李冬 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01B11/245 | 分类号： | G01B11/245 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 庞静 |
| 地址： | 710100*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开的一种天线型面精度快速测量方法，通过测量控制器控制M个测量相机对被测天线进行图像同步采集获得M幅照片，并自动对M副天线型面照片进行扫描、定向、匹配及光束法平差处理，得到天线型面上的标志点在测量坐标系下的空间点坐标，并通过坐标系转换将测量坐标系变换成天线坐标系，最终在天线坐标系下通过与理论模型进行对比得到被测天线的型面精度。本发明成功的解决了天线型面高精度高效率测量的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 天线型面 天线 测量坐标系 快速测量 测量控制器 坐标系转换 测量相机 理论模型 图像同步 标志点 高效率 光束法 空间点 匹配 测量 扫描 采集 成功 | ||
【主权项】：
1.一种天线型面精度快速测量方法，其特征在于包括如下步骤：(1)、采用M个固定机位的测量相机同时对被测天线型面进行拍照，获得M副包含标志点和基准尺的天线型面照片，所述标志点包括单点靶标和编码点；(2)、将M副天线型面照片进行扫描、定向、匹配及光束法平差处理，得到天线型面上的标志点在测量坐标系下的空间点坐标；(3)、将天线型面上标志点的空间点坐标由测量坐标系下转换到天线坐标系下；(4)、根据天线型面上的单点靶标点在天线坐标系下的空间点坐标，与天线理论模型对比得到各单点与理论模型在法向的偏差，所有单点法向偏差的均方根值即解算的型面精度。
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