[发明专利]一种液晶面板对位检测装置及方法在审
| 申请号： | 201810957769.0 | 申请日： | 2018-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN109061916A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 田新斌;徐向阳 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明揭露一种液晶面板对位检测装置及方法，通过将平板电极与待测标记相对放置组成平板电容器，并与电压源、电流源组成串联电路，再通过电容测量模块测量平板电容器的电容值，根据测量所得电容测量值即可进行对位检测。可以对厂内液晶面板制作过程中阵列测试、成盒测试、COF接合等采用光学对位较为困难的测试项目，可实现高精度对位检测，而且检测装置成本较低，检测方式简单易操作。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶面板 对位检测装置 平板电容器 测量 电容测量模块 高精度对位 测试项目 串联电路 电容测量 对位检测 光学对位 检测装置 平板电极 相对放置 阵列测试 制作过程 接合 电流源 电压源 电容 检测 测试 | ||
【主权项】：
1.一种液晶面板对位检测装置，其特征在于，所述装置包括电压源、电流源、平板电极以及电容测量模块；所述平板电极与待测标记图案相同，并在检测时与所述待测标记相对放置组成平板电容器；所述平板电容器与所述电压源、电流源组成串联电路；所述电容测量模块分别电连接所述平板电极和所述接待测标记，用于测量所述平板电容器的电容值以进行对位检测。
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